Otu ECPE Working Group AQG 324 hiwere na June 2017 na-arụ ọrụ na ntuziaka ntozu European maka modul ike maka ojiji na nkeji ihe ntụgharị ọkụ eletrik na ụgbọ ala.
Dabere na German LV 324 nke mbụ ('Ikike nke Module Eletrọnịkị Ike maka ojiji n'ime akụrụngwa ụgbọ ala - ihe achọrọ n'ozuzu, ọnọdụ ule na ule') Ntuziaka ECPE na-akọwapụta usoro a na-ahụkarị maka ịkọwa ule modul yana maka nnwale gburugburu ebe obibi na ndụ ndụ. modul eletrọnịkị ike maka ngwa ụgbọ ala.
Ndị ọrụ na-ahụ maka ụlọ ọrụ mmepụta ihe nke nwere ụlọ ọrụ ECPE nwere ihe karịrị ndị nnọchi anya ụlọ ọrụ 30 sitere na ụdọ ọkọnọ.
Ụdị AQG 324 dị ugbu a nke ụbọchị 12 Eprel 2018 na-elekwasị anya na modul ike Si dabeere na ebe ụdị ọdịnihu ga-ewepụta site na Ndị Ọrụ Na-arụ ọrụ ga-ekpuchikwa semiconductors ọhụrụ bandgap ike SiC na GaN.
Site n'ịkọwa nke ọma AQG324 na ụkpụrụ ndị metụtara ya site n'aka ndị otu ọkachamara, GRGT ewepụtala ikike teknụzụ nke nkwenye modul ike, na-enye akụkọ nyocha AQG324 na nkwenye maka ụlọ ọrụ elu na nke ala na ụlọ ọrụ semiconductor ike.
Modul ngwaọrụ ike yana ngwaahịa ihe nrụpụta pụrụ iche dabara na ngwaọrụ pụrụ iche
● DINENISO/IEC17025: Ihe ndị chọrọ n'ozuzu maka ike nke ule na calibration Laboratories
● IEC 60747: Ngwaọrụ Semiconductor, Ngwaọrụ pụrụ iche
● IEC 60749: Ngwaọrụ Semiconductor - Mechanical and Climatic Test Test
● DIN EN 60664: Nchikota mkpuchi maka akụrụngwa n'ime sistemu voltaji dị ala.
● DINEN60069: Nnwale gburugburu ebe obibi
● JESD22-A119: 2009: Ndụ Nchekwa Okpomọkụ dị ala
Ụdị ule | Nwalee ihe |
Nchọpụta modul | Parampat static, paramita dị ike, nchọpụta oyi akwa njikọ (SAM), IPI/VI, OMA |
Nnwale njirimara modul | Parasitic kpafuru akpafu inductance, thermal eguzogide, mkpirisi ihe mgbochi sekit, mkpuchi mkpuchi, nchọpụta oke ọrụ |
Nlele gburugburu | Igwe ọkụ ọkụ, ịma jijiji igwe, ujo igwe |
Nnwale ndụ | Ịgba ígwè (PCsec, PCmin), HTRB, HV-H3TRB, ọnụ ụzọ ámá na-agbanwe agbanwe, mgbanwe mgbanwe ike, H3TRB dị ike, diode bipolar degenration. |